เกจวัดความหนาการเคลือบกัลวาไนซ์ Galvanizing รุ่น CM-1210-200F เป็นพิเศษสำหรับการวัดความหนาของการเคลือบบนชิ้นงานขนาดเล็ก ย่านการวัด 0 – 200 µm / 0 – 8 mil มีความละเอียด 0.1µm/1µm มีความถูกต้อง ±1~3% or ±2.5µm or 0.1 mil
กระบวนการทำงานมีการแจ้งเตือนที่หึ่งในขณะที่ไม่มีการส่งข่าวในโหมดต่อเนื่อง ใช้เอาต์พุตข้อมูล USB / RS-232 เพื่อเชื่อมต่อกับพีซี ให้ตัวเลือกการส่งออกข้อมูลบลูทูธ
รายละเอียดเกจวัดรุ่น CM-1210-200F
- ช่วงการวัด: 0 ~ 200 μm
- ความละเอียด: 0.1 μm
- ขั้นต่ำ รัศมีชิ้นงาน: นูน 2 มม. / เว้า 4 มม
- ขั้นต่ำ พื้นที่การวัด: 2 มม
- ขั้นต่ำ ตัวอย่างความหนา: 0.1 มม
- ความแม่นยำ: ± 1 ~ 3% n หรือ± 2.5 μm
- ปิดอัตโนมัติ
- ไฟแสดงสถานะแบตเตอรี่: ไฟแสดงสถานะแบตเตอรี่ต่ำ
- เงื่อนไขการใช้งาน: อุณหภูมิ 0 ~ 50 ° C ความชื้น: <80% RH
- แหล่งจ่ายไฟ: 4 X 1.5 V AAA (UM-4) แบตเตอรี่ (ไม่รวม)
- ขนาด: 140X72 X 34mm (5.5 X 2.8 X 1.3 นิ้ว)
- น้ำหนัก: 215 กรัม